集电极-发射极截止电流(ICES)检测技术详解
一、ICES参数的定义与重要性
二、核心检测项目清单(GB/T 4587-94标准参考)
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- 测试电压:VCE标称值±5%(典型值:30V~100V)
- 温度范围:常温25±2℃/高温85℃/低温-40℃
- 持续时间:单次测量≥30秒,老化测试≥1000小时
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测试模式 施加电压 监测点 允许偏差 正向偏置 VCE=Max Rated CB两极 ±2% 反向耐压 VCBO=1.5VCEO BE短接 ±5mV 温度循环 -40℃↔125℃ 热沉接触面 ±1℃ 长期稳定性 85%额定电压 连续监测 0.1nA分辨率 -
- 电压斜坡速率:0.1V/s~10V/s扫描
- 高频响应测试:1MHz交流叠加
- 瞬态冲击:5μs脉冲过压测试
三、检测设备技术要求
- 高阻计:输入阻抗≥1TΩ
- 恒温箱:温控精度±0.5℃
- 防震平台:振幅<5μm
- 电磁屏蔽室:背景噪声<1pA
四、故障诊断树
ICES异常偏高 ├─ 材料缺陷(基区掺杂不均) ├─ 工艺问题(氧化层针孔) ├─ 污染(金属迁移) ├─ 静电损伤(ESD击穿) └─ 测试误差(接地不良)五、军工级特殊检测项目
- 辐射加固测试:γ射线累积剂量100krad(Si)
- 粒子轰击:1MeV中子注量1×10^14n/cm²
- 真空环境测试:10^-6Torr下持续工作验证
六、数据处理规范
- 建立批次数据库,包含:
- 均值/极差控制图(X-R Chart)
- Weibull失效分布模型
- 8D异常分析报告模板
- 数据采样率:正常值1Hz,异常值1kHz
七、案例分析
- 常温ICES=50nA(规格限值≤10nA)
- 热成像显示CB结局部热点
- SEM分析确认金属迁移路径
- 改进措施:增加钝化层厚度至200nm
八、国际标准对比
标准体系 | 测试电压 | 温度循环 | 判定标准 |
---|---|---|---|
JEDEC47 | 80% VCEO | 3次循环 | 变化率<20% |
MIL-STD-883 | 100% VCEO | 5次循环 | 绝对值不超标 |
AEC-Q101 | 动态扫描 | 板级测试 | 批次CPK≥1.33 |
九、前沿检测技术
- 扫描探针显微术(SPM)界面态分析
- 低温(4K)量子隧穿特性测试
- TCAD仿真与实测数据融合分析
十、质量控制要点
- 建立Golden Device对比体系
- 实施GR&R(测量系统分析)
- 制定ORT(持续可靠性测试)计划
- 关键参数CP/CPK过程能力监控


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