真空严密性试验
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真空严密性试验是评估真空系统或密闭容器在规定条件下保持其真空度能力的关键测试,主要用于检测泄漏率与系统放气率是否满足设计要求。
1. 检测项目分类及技术要点
真空严密性试验主要分为定性检漏和定量检漏两大类。
1.1 定性检漏
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目的:快速确定泄漏点的大致位置。
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技术要点:
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喷吹法(正压法):向被检容器内充入高于大气压的示踪气体(如氦气、氩气),使用检漏仪探头或皂液在外部可疑部位扫描或涂抹,观察气泡或仪器响应。
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吸枪法(负压法/抽真空法):将被检容器抽真空,在外部可疑部位喷吹示踪气体,通过连接在真空系统上的质谱检漏仪检测是否有示踪气体侵入。
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静态升压法(保压法):将系统抽至特定真空度后关闭隔离阀,监测其内部压力随时间的变化率(ΔP/Δt)。此方法无法定位,但能判断系统整体严密性是否合格。关键要点是需区分压力上升源于真实泄漏还是材料放气。通常要求在达到工作真空度后,隔离系统,记录初始压力P₀,经过时间t(通常为5-10分钟)后记录压力P₁。计算压力上升平均值,标准通常要求≤ 0.13 kPa/min (或行业特定值,如火力发电行业常用≤0.4 kPa/min)。
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1.2 定量检漏
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目的:精确测量系统的总泄漏率,单位为 Pa·m³/s 或 mbar·L/s。
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技术要点:
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标准漏孔比对法:使用已知泄漏率的标准漏孔进行校准,通过比较检漏仪信号计算实际泄漏率。
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氦质谱检漏法(负压法/真空模式):此为最灵敏的定量方法之一。将被检容器连接到氦质谱检漏仪,抽至高真空(通常需≤1×10⁻² Pa)。在可疑部位喷吹氦气,仪器直接显示氦泄漏率。检测灵敏度可达10⁻¹² Pa·m³/s量级。
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累积检漏法(氦罩法):用氦气或含氦混合气体“罩住”整个被检容器或可疑部件,经过一段累积时间后,使用吸枪或直接连接方式将可能漏入的氦气送入质谱检漏仪分析,计算总漏率。适用于无法直接连接到检漏仪的大型或复杂系统。
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2. 各行业检测范围的具体要求
2.1 火力发电行业(汽轮机凝汽器)
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标准依据:DL/T 932-2019《凝汽器与真空系统运行维护导则》
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试验方法:主要采用静态升压法。
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具体步骤与要求:
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机组负荷稳定在额定负荷的80%以上,关闭凝汽器抽气管道上的隔离阀(如真空泵入口阀门)。
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记录关闭瞬间的真空值(或绝对压力)作为起始点。
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试验持续时间为5-10分钟,每分钟记录一次真空(压力)值。
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合格标准:试验结束时,真空下降速度 ≤ 0.13 kPa/min (≈ 0.4 kPa/min 于早期标准,但现行标准更严)为优良;≤ 0.27 kPa/min 为合格。不同容量机组可能有更具体规定。
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试验环境要求:排除循环水温、负荷大幅波动等干扰因素。
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2.2 核电行业
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检测对象:安全壳、乏燃料池、一回路部分压力边界辅助系统等。
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标准依据:ASME BPVC Section V, Article 10, 或 IAEA安全标准。
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具体步骤与要求:
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安全壳整体泄漏率试验(ILRT/IRT):采用绝对压力变化法或示踪气体法。对安全壳内充压至设计压力(如0.13-0.39 MPa abs),监测24-48小时内压力、温度变化,通过公式(如理想气体定律)计算标准泄漏率。要求通常极严,如24小时内的最大泄漏率不超过安全壳内气体总质量的0.1-0.5%。试验前需进行严格的温度稳定与密封措施。
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局部泄漏检测:对阀门、焊缝等使用高灵敏度氦质谱检漏,验收标准通常在10⁻⁷ 至 10⁻⁹ Pa·m³/s量级。
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2.3 真空镀膜与半导体制造设备
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检测对象:镀膜腔室、PVD/CVD反应腔、负载锁、传输腔等。
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要求:要求极高的基础真空和操作真空度,泄漏率必须极低以避免工艺污染。
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具体步骤与要求:
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首齐全行静态升压测试,确认腔体整体泄漏与放气情况。合格腔体在抽至极限真空(如<1×10⁻⁴ Pa)并隔离后,压力上升率应小于特定值(如5×10⁻³ Pa/h)。
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对疑似漏点或关键密封连接处,使用氦质谱检漏仪(真空吸枪法或喷吹法)进行精细定位和定量。验收标准通常在 < 1×10⁻⁹ Pa·m³/s 甚至更严。
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2.4 航天器(空间模拟)与低温容器
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检测对象:航天器舱体、推进剂贮箱、低温液体储罐/管道。
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要求:模拟空间环境,确保无泄漏导致推进剂损失或舱体失压。
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具体步骤与要求:
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采用氦质谱累积检漏法(氦罩法)为主。将整个被测件或部件置于充氦的密闭罩内一定时间,然后检测其内部或连接真空系统的氦分压上升值。
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对于大型低温容器(如液氢/液氧储罐),需在常温与低温工况下分别测试。泄漏率要求极其严格,例如< 1×10⁻¹¹ Pa·m³/s。
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常结合四极质谱仪(RGA)进行残余气体分析,区分泄漏气体成分与材料放气成分。
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3. 检测仪器的原理和应用
3.1 氦质谱检漏仪
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原理:核心部件为磁偏转或四极杆质谱分析器。将采集到的气体离子化,在磁场或交变电场中,不同质荷比(m/z)的离子偏转路径不同。通过将接收器调谐到氦离子特征质荷比(m/z=4),选择性检测氦信号,其强度与氦分压(即泄漏量)成正比。
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工作模式:
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真空模式(负压法):被检件直接连接至检漏仪,抽真空后从外部喷氦。灵敏度最高。
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吸枪模式(正压法):被检件内部充正压氦气,用吸枪在外部扫描,吸入气体送入检漏仪。便于检测大型不可抽真空设备,但灵敏度较低。
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累积模式:结合了正压累积与负压检测,用于高灵敏度检测复杂部件。
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应用:几乎所有高要求定量检漏场合,是核工业、半导体、航天、高端制造领域的基准仪器。
3.2 静态升压测试系统
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原理:非特异性检测。系统由高精度真空计(如电容薄膜规)、隔离阀、数据记录仪和抽气系统组成。通过测量单位时间内被隔离真空腔的压力升高值,根据系统容积V计算总的气体流入量 Q = V * (ΔP/Δt)。需通过干燥、烘烤等方法尽量减少材料表面放气的影响,以区分泄漏与放气。
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应用:真空设备出厂验收、日常维护(如电厂凝汽器)、真空炉及镀膜设备性能验证。是判断系统整体严密性的首要且必要步骤。
3.3 气泡检漏与压力衰减检漏设备
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原理:
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气泡检漏:将被检件浸入液体或表面涂抹皂液,内部充入压缩气体,观察气泡形成。简单直观,但灵敏度较低(通常>10⁻⁵ Pa·m³/s)。
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压力衰减检漏(压降法):向被检件充入一定压力的气体(空气或氮气),通过高精度压力传感器监测一段时间内的压力下降,结合温度补偿,计算等效泄漏率。
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应用:汽车零部件(油箱、缸体)、家电密封件、低压管道系统、包装材料等对灵敏度要求不极高的工业化快速检测。
3.4 四极质谱残余气体分析仪
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原理:与氦质谱仪类似,但可扫描一段质量范围(如1-100 amu),显示所有气体成分的分压谱图。
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应用:在真空严密性试验中主要用于辅助判断。通过分析压力上升过程中气体成分的变化(如空气中富含氮气、氩气,泄漏时其比例上升;而放气主要成分为水、氢气、一氧化碳等),有效区分泄漏与放气,指导检漏方向。



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