灌封胶测试
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1. 检测项目分类及技术要点
灌封胶性能测试分为物理性能、化学性能、电气性能、热学性能及可靠性五大类。
1.1 物理性能
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黏度: 表征流动性,采用旋转黏度计在标准温度(如25±0.5°C)下测量,单位 mPa·s 或 cP。需明确测量时的剪切速率。
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密度: 依据标准(如GB/T 13354),采用比重杯法测量。
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凝胶时间/操作时间: 在规定温度下,从混合到胶体失去流动性或达到特定黏度(如50,000 mPa·s)的时间。操作时间通常为凝胶时间的70%-80%。
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固化后硬度: 常用邵氏A或邵氏D硬度计(ASTM D2240)测量。数据需注明固化条件(温度、时间)及测试龄期(如完全固化7天后)。
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线性收缩率: 固化前后体积或长度变化百分比。低收缩率(通常<0.5%)对减少内应力至关重要。
1.2 化学性能
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固化放热峰: 通过差示扫描量热仪(DSC)监测混合后反应放热过程,峰值温度(Tpeak)和到达时间(T@Tpeak)影响灌封工艺及对大元件的热冲击风险。
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挥发份含量: 固化过程或高温下低分子物挥发导致的质量损失百分比,影响内部空洞和电气性能。
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耐化学药品性: 固化后试片浸泡于特定介质(如酸、碱、溶剂、燃油)规定时间后,评估其质量、体积、硬度及外观变化。
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阻燃等级: 依据UL 94标准,评定V-0、V-1、V-2等级,涉及垂直/水平燃烧测试。
1.3 电气性能
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体积电阻率/表面电阻率: 高绝缘性指标,通常使用高阻计(ASTM D257)在标准温湿度下测量,优良灌封胶体积电阻率应>1×10^12 Ω·cm。
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介电强度(击穿电压强度): 单位厚度能承受的最高电压,通常≥15 kV/mm。测试遵循IEC 60243,需规定升压速率和电极形状。
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介电常数(Dk)与损耗因子(Df): 高频应用关键参数。使用阻抗分析仪或网络分析仪在特定频率(如1 MHz, 1 GHz)下测量。低Dk和Df有利于信号完整性。
1.4 热学性能
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玻璃化转变温度(Tg): 通过DSC或动态热机械分析仪(DMA)测定,是材料从玻璃态向高弹态转变的特征温度。高Tg材料在高温下保持刚性好。
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热膨胀系数(CTE): 分为玻璃态(Tg以下)和橡胶态(Tg以上)两个阶段。低CTE(尤其Tg以下)有助于匹配被封装元件,降低热应力。常用热机械分析仪(TMA)测量。
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热导率: 散热关键参数。常用热流计法(ASTM D5470)或激光闪射法(ASTM E1461)测量,单位 W/(m·K)。导热灌封胶热导率范围通常为0.5-3.0 W/(m·K)。
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长期耐温等级/温度指数: 通过热老化试验(如IEC 60216)评估,确定材料在长期(如20,000小时)使用下的最高耐受温度。
1.5 可靠性
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冷热冲击/温度循环: 依据标准(如JESD22-A104),在极端高低温(如-55°C/+125°C)间快速转换,评估开裂、分层、电性能劣化。
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高温高湿老化(双85/HAST): 在85°C/85%RH条件下长期测试(通常1000小时),或进行高压加速寿命试验(HAST),评估绝缘电阻下降、金属引线腐蚀等情况。
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机械冲击与振动: 验证在运输或使用环境下对内部元件的保护能力。遵循MIL-STD-883或IEC 60068-2系列标准。
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盐雾试验: 评估对含盐潮湿环境的耐受性,特别是对金属部件的防护,遵循ASTM B117。
2. 各行业检测范围的具体要求
2.1 新能源汽车与电力电子
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聚焦安全性: 强制要求高阻燃等级(通常V-0),优异的耐热性(长期工作温度≥125°C,短期耐受>180°C)。
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高可靠性: 必须通过严苛的温度循环(-40°C至+125°C,>500次)和高温高湿老化测试(1000小时以上)。
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电气绝缘性: 针对电机控制器、OBC等高压部件(工作电压≥600VDC),要求超高介电强度(≥25 kV/mm)和耐电晕性能。
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热管理: 对IGBT模块等大功率器件,导热率是关键(常需≥1.5 W/(m·K)),且要求低热阻和低CTE以匹配半导体材料。
2.2 消费电子与LED照明
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基础防护与可靠性: 重点评估常态下的防水防潮性能(如IP67等级测试)、常规温度循环及机械振动。
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光学性能(针对LED): 要求高透光率(>90%)、低黄变指数(初始及老化后),以及良好的耐UV老化性能。
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工艺与环保: 关注操作时间、表干时间等工艺适应性,并可能要求符合RoHS、REACH等有害物质限制法规。
2.3 航空航天与军工
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极端环境耐受: 测试条件远超常规,温度范围可达-65°C至+200°C以上,并需考虑高真空、强辐射等特殊环境下的性能保持率。
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长寿命与超高可靠: 依据MIL、NASA等标准进行超长时、多因素复合的可靠性验证(如温度-湿度-振动三综合试验)。
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低放气性: 必须通过低总质量损失(TML)和可凝挥发物(CVCM)测试(如ASTM E595),以防止污染精密光学或电子系统。
2.4 通信/5G基础设施
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高频电性能: 对介电常数(Dk)和损耗因子(Df)的稳定性要求极高,需在宽频带(如1-40 GHz)内进行测试,且要求低至0.005以下的Df值。
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高热管理: 基站功率放大器等部件要求灌封胶兼具高导热(>2.0 W/(m·K))和低Dk/Df。
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户外长期可靠性: 必须通过长期耐紫外、耐盐雾及宽温域温度循环测试。
3. 检测仪器的原理和应用
3.1 热分析类仪器
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差示扫描量热仪(DSC):
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原理: 测量样品与参比物在程序控温下的热流差,用于分析固化反应(放热峰)、玻璃化转变温度(Tg)、熔点、结晶度及热稳定性。
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应用: 确定固化工艺(起始、峰值、结束温度),计算反应焓,表征Tg,评估材料纯度与热历史。
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热机械分析仪(TMA):
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原理: 在微小负荷下,测量样品尺寸随温度或时间的变化。
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应用: 精确测定线性膨胀系数(CTE)、玻璃化转变温度(Tg,膨胀法)、软化点及固化过程中的体积收缩。
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动态热机械分析仪(DMA):
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原理: 对样品施加一个周期性的振荡应力,测量其应变响应,得到储能模量(E‘)、损耗模量(E’‘)和损耗因子(tanδ)随温度、频率或时间的变化。
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应用: 精确测定Tg(以tanδ峰或E’拐点为准),评估材料的粘弹性、固化程度、阻尼性能及低温韧性。
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3.2 电气性能测试仪器
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高阻计/绝缘电阻测试仪:
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原理: 通常采用直流比较法或电压-电流法,通过施加标准化直流测试电压(如500V),测量流经试样的微小泄漏电流,计算电阻值。
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应用: 直接测量体积电阻率和表面电阻率,是评价绝缘性能的基础测试。
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介电强度测试仪(耐压测试仪):
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原理: 在试样两端施加连续可升的交流或直流高压,直至试样发生介电击穿,记录击穿瞬间的电压值。
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应用: 测定材料的击穿电压强度,验证其承受过电压的能力。
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阻抗分析仪/网络分析仪:
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原理: 阻抗分析仪通过施加扫频交流信号,精确测量材料在特定频率下的复阻抗,进而计算Dk和Df。网络分析仪则通过测量微波信号在材料中的传输/反射特性来提取高频介电参数。
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应用: 关键用于高频电子领域,测量宽频率范围内的介电常数(Dk)和损耗因子(Df)。
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3.3 物理性能与可靠性测试设备
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旋转黏度计:
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原理: 通过测量转子在胶液中匀速旋转所受的扭矩,换算得到黏度值(流变仪则可进行更复杂的流变分析)。
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应用: 监控胶料的混合状态、适用期及工艺性,是生产与研发的常规测试。
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恒温恒湿试验箱/冷热冲击试验箱:
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原理: 通过制冷/加热系统、加湿/除湿系统精确控制腔体内的温湿度环境或实现温区间的快速转换。
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应用: 模拟高温高湿、温度循环、冷热冲击等环境条件,进行加速老化与可靠性评估。
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万能材料试验机:
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原理: 通过伺服电机或液压系统驱动横梁,对试样施加拉伸、压缩、弯曲、剪切等载荷,并同步测量力与位移。
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应用: 测定灌封胶固化后的拉伸强度、断裂伸长率、压缩强度、弹性模量等力学性能。
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