一、基础电气参数测试
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- 目的:验证芯片在标称输入电压下的输出电压是否符合规格。
- 方法:使用可编程电源模拟输入变化(如3V-5V输入),测量输出是否稳定在目标值(如1.8V±2%)。
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- 负载调整率:输出电流从10%到满载时,电压的波动范围(通常要求<±3%)。
- 线性调整率:输入电压变化时,输出电压的稳定性(如输入变化±10%,输出波动<±1%)。
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- 效率:计算输出功率与输入功率的比值(例如:DC-DC转换器效率需≥90%)。
- 待机功耗:芯片在休眠模式下的静态电流(如要求<10μA)。
二、动态性能验证
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- 方法:通过电子负载模拟负载阶跃变化(如50%→75%→50%),测量输出电压恢复稳定的时间和过冲幅度(通常要求恢复时间<100μs)。
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- PWM频率:验证开关电源的实际频率是否与设计匹配(如1MHz±10%)。
- 多相电源同步:多相并联时,检查各相波形相位差是否均匀(避免电流失衡)。
三、保护功能测试
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- 触发阈值:输入过压时是否切断输出(如输入超过6V触发保护)。
- 自恢复能力:故障解除后能否自动重启。
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- 模拟短路:短接输出端,检测限流值是否在标称范围内(如2A限流),并观察芯片温度变化。
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- 方法:通过热风枪加热芯片至标称温度(如125℃),验证是否触发关断并记录恢复条件。
四、功能模块专项测试
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- 轻载效率:测试低负载下脉冲跳跃(PSM)模式是否正常。
- 交叉调整率:多路输出时,验证一路负载变化对其他输出的影响。
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- 压差测试:输入输出最小压差是否符合规格(如150mV@300mA)。
- PSRR(电源抑制比):测量高频噪声抑制能力(如60dB@1kHz)。
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- 充电曲线:验证恒流/恒压充电阶段的切换点及截止电流精度。
- 库仑计精度:充放电电量统计误差(需<±3%)。
五、环境与可靠性测试
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- 方法:在温箱中循环48小时,监测参数漂移(如输出电压变化<±5%)。
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- 条件:满负荷运行500小时,统计失效比例(目标失效率<0.1%)。
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- 传导干扰:使用频谱分析仪检测开关噪声是否超出EN55022标准。
- 抗干扰能力:注入EFT(电快速脉冲群)测试芯片稳定性。
六、通信与控制接口测试
- I2C/SPI通信功能
- 读写寄存器:验证电压设定值、开关机指令的传输成功率(需100%无误)。
- 中断响应:模拟故障(如过温),检查中断信号是否准确触发。
七、封装与物理特性
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- 方法:测量芯片结温与环境温差,评估散热设计(如θJA≤50℃/W)。
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- 回流焊测试:验证封装是否耐受无铅焊接工艺(峰值温度260℃)。
总结


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