当前位置：首页 > 研究所动态 > 实验仪器

高分辨透射电子显微镜(FEI Tecnai G2 F30 )

发布时间：2025-12-23 14:56:14 点击数：2025-12-23 14:56:14 - 关键词：

实验室拥有众多大型仪器及各类分析检测设备，研究所长期与各大企业、高校和科研院所保持合作伙伴关系，始终以科学研究为首任，以客户为中心，不断提高自身综合检测能力和水平，致力于成为全国科学材料研发领域服务平台。

立即咨询

网页字号：【大中小】 | 【打印】【关闭】微信扫一扫分享：

联系中析研究所

价格？周期？相关检测仪器？

想了解检测费用多少？

有哪些适合的检测项目？

检测服务流程是怎么样的呢？

高分辨透射电子显微镜是现代材料科学、物理学、化学和生命科学等领域进行原子尺度结构分析的核心表征工具。它突破了光学显微镜的衍射极限，利用高能电子束作为“光源”，能够直接观测材料的晶体结构、晶格条纹、原子排列、缺陷乃至单个原子，是连接材料宏观性能与其微观本质的桥梁。

高分辨透射电子显微镜(FEI Tecnai G2 F30 )

高分辨透射电子显微像（HRTEM Image）：
- 功能：在特定的离焦条件和晶体取向下（通常沿某个晶带轴），获得与晶体原子列投影直接相关的明暗条纹像（晶格像）或点阵像（原子柱像）。可直接观察晶面间距、晶体取向、晶界、相界等。
- 关键参数：离焦量和样品厚度直接影响图像的解释，需要复杂的模拟计算来匹配和验证。
选区电子衍射（SAED）：
- 功能：通过插入选区光阑，对样品上特定微区（通常为数百纳米）进行衍射，获得衍射花样。用于确定晶体结构、物相鉴定、晶胞参数、晶体取向（结合双倾台）以及分析晶体缺陷。
扫描透射电子显微术（STEM）：
- 功能：将电子束会聚成极细的探针（<0.1 nm），在样品表面进行光栅式扫描，通过收集不同信号成像。是HRTEM的重要互补模式。
- 主要信号：
  - 高角环形暗场像（HAADF-STEM）：图像强度近似与原子序数的平方成正比（Z-衬度），非常适合观察重原子在轻基体中的分布，或区分不同元素的原子柱。
  - 环形明场像（ABF-STEM）：对轻元素（如锂、氧、氮）敏感，可实现轻、重原子同时成像。

能量色散X射线光谱（EDS）：
- 功能：电子束轰击样品激发出特征X射线，通过分析X射线的能量和强度，对选定区域进行元素定性、半定量及面分布（mapping）分析。空间分辨率可达纳米级。
电子能量损失谱（EELS）：
- 功能：分析穿过样品后非弹性散射电子的能量损失。能提供除元素成分外，更丰富的化学态（如价态、配位环境）、电子结构（如能带隙）、等离子体激发等信息。对轻元素分析尤其灵敏。