扫描电子显微镜(SEM-EDS)
厂家： FEI
型号：QUANTA FEG 450
技术指标
功能：场发射环境扫描
加速电压 ：200V ～ 30kV
较小分辨率：5nm
主要功能
可应用于各种材料的研究，进行结构和成分表征。可以得到检测材料的表面像和成分像，并辅以其他检测来确定材料的性质和元素组成。具有高真空、低真空和ESEM环境真空三种真空模式，分析样品范围广泛，从传统的金属材料、断口和抛光断面，到不导电的软物质。
可用于表征测量亚微米尺寸的样品，适用于新能源薄膜材料组成、形貌和成膜质量的高精度观测，纳米材料样品表面的观测，多层镀膜材料的制作工艺和缺陷分析，各种材料表面腐蚀及缺陷分析等。
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