上限类别温度耐久性检测:核心检测项目详解
一、基础耐热性能测试
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- 目的:测定材料在负载下发生形变的临界温度。
- 方法:按ISO 75或ASTM D648标准,对试样施加恒定弯曲应力(通常0.45 MPa或1.8 MPa),以2°C/min升温至试样变形达0.25mm时的温度。
- 适用对象:塑料、绝缘材料、结构件。
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- 目的:评估材料在无负载条件下的软化温度。
- 方法:依据ISO 306,用1mm²平头针在试样表面施加50N力,记录其刺入1mm深度时的温度。
- 关键参数:升温速率(50°C/h或120°C/h)。
二、长期高温老化测试
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- 条件:将样品置于上限温度±5°C的恒温箱中,持续运行500~1000小时。
- 监测指标:
- 力学性能:拉伸强度、弯曲模量(按ISO 527测试);
- 电气性能:绝缘电阻(IEC 60112)、介电强度(ASTM D149);
- 外观变化:表面龟裂、褪色、起泡等。
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- 目的:模拟昼夜温差或间歇运行工况。
- 流程:高温(UCT)→室温→低温(可选)循环,单次循环4~24小时,总次数≥50次。
- 重点关注:连接器接触电阻、焊点疲劳、密封件失效。
三、极端条件加速老化测试
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- 方法:依据IEC 60068-2-14,将样品在-55°C(低温)至上限温度间快速切换(转换时间<5分钟),循环次数≥100次。
- 失效模式:材料分层、脆化、涂层剥离。
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- 条件:温度85°C、湿度85%RH(双85试验),持续168~1000小时。
- 检测项目:
- 金属部件盐雾腐蚀(ASTM B117);
- 高分子材料水解稳定性(重量损失率)。
四、功能性验证测试
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- 场景模拟:在UCT环境下,对电子产品施加最大额定电流/功率,监测以下指标:
- 温升曲线(热电偶或红外热成像);
- 输出参数漂移(如电压精度、信号失真度)。
- 场景模拟:在UCT环境下,对电子产品施加最大额定电流/功率,监测以下指标:
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- 方法:高温环境中进行气密性测试(氦质谱检漏法)或防水测试(IPX9K等级)。
- 典型失效:O型圈硬化、胶粘剂流淌。
五、材料微观分析
- 热重分析(TGA)
- 数据获取:材料分解温度、挥发分含量(ASTM E1131)。
- 差示扫描量热法(DSC)
- 检测内容:玻璃化转变温度(Tg)、熔融峰变化。
- 傅里叶红外光谱(FTIR)
- 用途:分析高温老化后化学键断裂或氧化产物。
六、测试设备与标准
设备类型 | 参考标准 | 典型参数 |
---|---|---|
恒温恒湿试验箱 | IEC 60068-2-2 | 温度范围:-70°C~300°C |
热机械分析仪(TMA) | ASTM E831 | 分辨率:0.1μm |
高温耐久试验台 | ISO 16750-4 | 多通道数据采集(温度、电流) |
七、结果判定与改进方向
- 合格标准:所有性能衰减≤20%(依行业调整),外观无不可逆损伤。
- 典型改进措施:
- 更换耐高温基材(如LCP替代PBT);
- 增加散热设计(热管、导热硅脂);
- 优化结构间隙(预防热膨胀干涉)。
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