标准编号：GB/T 1555-2009半导体单晶晶向测定方法
标准状态：现行
标准简介：本标准规定了半导体单晶晶向X 射线衍射定向和光图定向的方法。本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的表面取向。
英文名称： Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
替代情况： 替代GB/T 1555-1997
中标分类： 冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
ICS分类： 电气工程>>29.045半导体材料
发布部门： 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期： 2009-10-30
实施日期： 2010-06-01
首发日期： 1979-05-26
提出单位： 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
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