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GB/T 13387-2009硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法

GB/T 13387-2009硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法

GB/T 13387-2009硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法,本标准用于标称圆形晶片边缘平直部分长度小于等于65mm 的电学材料。本标准仅对硅片精度进行确认,预期精度不因材料而改变。本标准适用于仲裁测量,当规定的限度要求高于用尺子和肉眼检测能够获得的精度时,本标准也可用于常规验收测量。...

查看详情 发布时间:2019-11-14 13:16:56 - 点击数:41
GB/T 5238-2009锗单晶和锗单晶片

GB/T 5238-2009锗单晶和锗单晶片

GB/T 5238-2009锗单晶和锗单晶片,本标准规定了锗单晶和锗单晶片的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存、订货单(或合同)内容。本标准适用于制作半导体器件、激光、外延衬底等用的锗单晶和锗单晶片。...

查看详情 发布时间:2019-11-13 11:18:46 - 点击数:33